1、有源器件：有源器件包括光源、光檢測器和光放大器，這些器件是光發(fā)射機、光接收機和光中繼器的關(guān)鍵器件，和光纖一起決定著基本光纖傳輸系統(tǒng)的水平。
2、光無源器件：光無源器件主要有連接器、光纖準(zhǔn)直器、耦合器、波分復(fù)用器/解復(fù)用器、光隔離器、光環(huán)形器、光開關(guān)、光濾波器、光衰減器等。

GB/T 33768-2017 通信用光電子器件可靠性試驗方法
GB/T 21194通信設(shè)備用的光電子器件的可靠性通用要求
GB/T 4937.12-2012 半導(dǎo)體器件機械和氣候試驗方法  第12部分：掃頻振動
GB/T 4857.10-2005 包裝 運輸包裝件基本試驗 第10部分：正弦變頻振動試驗方法
GB/T 4857.23-2021 包裝 運輸包裝件基本試驗 第23部分：垂直隨機振動試驗方法
GB/T 4857.7-2005 包裝 運輸包裝件基本試驗 第7部分：正弦定頻振動試驗方法
GB/T 2423.102-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合
GB/T 2423.58-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fi：振動 混合模式
GB/T 2423.59-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/ABMFh：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機）綜合
GB/T 2423.63-2019 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（混合模式）綜合 GB/T 2424.26-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第3部分：支持文件和導(dǎo)則 振動試驗選擇

振動試驗可模擬一連串振動現(xiàn)象，測試產(chǎn)品在壽命周期中，是否能承受運輸或使用過程的振動環(huán)境的考驗，也能確定產(chǎn)品設(shè)計和功能的要求標(biāo)準(zhǔn)。通信用光電子器件變頻振動試驗可確定在規(guī)定頻率范圍內(nèi)振動對光電子器件的影響。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種通信用光電子器件的環(huán)境試驗?zāi)芰Γ瑸橥ㄐ庞霉怆娮悠骷峁I(yè)的變頻振動試驗服務(wù)。

按以下程序進行試驗：
a）試驗前應(yīng)對試樣的主要光電特性進行測試；
b）將試樣外殼剛性地固定在振動臺上，引線或光纖也應(yīng)適當(dāng)固定；
c）試樣在振動臺上作等幅簡諧振動，其振幅兩倍幅值為（1.52±0.1）mm。在向下變頻率時，控制振幅大小，向上變頻率時，控制峰值加速度值。
振動頻率在20 Hz～2 000 Hz范圍內(nèi)近似對數(shù)變化。從20 Hz~2 000 Hz，然后從2 000 Hz回到20 Hz的時間應(yīng)不少于4 min ；
d）在X1，Y1，Z1的三個方向上各進行4次循環(huán)，總共12次。整個周期所需時間至少為48 min。